磁導(dǎo)率μ等于磁介質(zhì)中磁感應(yīng)強(qiáng)度B與磁場強(qiáng)度H之比，即μ=B / H。

通常使用的是磁介質(zhì)的相對磁導(dǎo)率 ，其定義為磁導(dǎo)率μ與真空磁導(dǎo)率μ0之比，即 =μ/ 。

相對磁導(dǎo)率 與磁化率χ的關(guān)系是： =1+ 。

磁導(dǎo)率μ，相對磁導(dǎo)率 和磁化率 都是描述磁介質(zhì)磁性的物理量。

對于順磁質(zhì) >1；對于抗磁質(zhì) <1，但兩者的 都與1相差無幾 。在大多數(shù)情況下，導(dǎo)體的相對磁導(dǎo)率等于1。在鐵磁質(zhì)中，B與 H 的關(guān)系是非線性的磁滯回線，不是常量，與H有關(guān)，其數(shù)值遠(yuǎn)大于1。

例如，如果空氣(非磁性材料)的相對磁導(dǎo)率是1，則鐵氧體的相對磁導(dǎo)率為10,000，即當(dāng)比較時，以通過磁性材料的磁通密度是10,000倍。鑄鐵為200～400；硅鋼片為7000～10000；鎳鋅鐵氧體為10～1000。

涉及磁導(dǎo)率的公式：

磁場的能量密度=B2/2μ

在國際單位制（SI）中，相對磁導(dǎo)率μr是無量綱的純數(shù)，磁導(dǎo)率μ的單位是亨利/米（H/m）。

常用的真空磁導(dǎo)率μ04π×10-7H/m。

(1)初始磁導(dǎo)率μi：是指基本磁化曲線當(dāng)H→0時的磁導(dǎo)率

(2)最大磁導(dǎo)率μm：在基本磁化曲線初始段以后，隨著H的增大，斜率μ=B/H逐漸增大，到某一磁場強(qiáng)度下(Hm)，磁密度達(dá)到最大值（Bm）

（3）飽和磁導(dǎo)率μS：基本磁化曲線飽和段的磁導(dǎo)率，μS值一般很小，深度飽和時，μS=μ0。

（4）差分（增量）磁導(dǎo)率μΔ∶μΔ=△B/△H。ΔB及△H是在（B1，H1）點(diǎn)所取的增量如圖1和圖2所示。

（5）微分磁導(dǎo)率，μd∶μd=dB /dH，在（B1，H1）點(diǎn)取微分，可得μd。

可知：μ1=B1/H1，μ△=△B /△H，μd=dB1/dH1，三者雖是在同一點(diǎn)上的磁導(dǎo)率，但在數(shù)值上是不相等的。

非磁性材料（如鋁、木材、玻璃、自由空間）B與H之比為一個常數(shù)，用μ來表示非磁性材料的的磁導(dǎo)率，即μ=1（在CGS單位制中）或 μ=4π×10-7（在RMKS單位制中）。

在眾多的材料中，如果自由空間（真空）的μ0=1，那△么比1略大的材料稱為順磁性材料（如白金、空氣等）；比1略小的材料，稱為反磁性 材料（如銀、銅、水等）。本章介紹的磁性元件μ1是大有用處的。只有在需要磁屏蔽時，才會用銅等反磁性材料做成屏蔽罩使磁元件的磁 不會輻射到空間中去。

下面給出幾個常用的參數(shù)式：

（1）有效磁導(dǎo)率μr0。在用電感L形成閉合磁路中（漏磁可以忽略），磁心的有效磁導(dǎo)率為：

式中 L——繞組的自感量（mH）；

W——繞組匝數(shù)；

磁心常數(shù)，是磁路長度Lm與磁心截面積Ae的比值（mm）．

（2）飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs。隨著磁心中磁場強(qiáng)度H的增加，磁感應(yīng)強(qiáng)度出現(xiàn)飽和時的B值，稱為飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度B。

（3）剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度Br。磁心從磁飽和狀態(tài)去除磁場后，剩余的磁感應(yīng)強(qiáng)度（或稱殘留磁通密度）。

（4）矯頑力Hc0。磁心從飽和狀態(tài)去除磁場后，繼續(xù)反向磁化，直至磁感應(yīng)強(qiáng)度減小到零，此時的磁場強(qiáng)度稱為矯頑力（或保磁力）。

（5）溫度系數(shù)aμ°溫度系數(shù)為溫度在T1～T2范圍內(nèi)變化時，每變化1℃相應(yīng)磁導(dǎo)率的相對變化量，即

式中 μr1——溫度為T1時的磁導(dǎo)率；

μr2——溫度為T2時的磁導(dǎo)率。

值得注意的是：除了磁導(dǎo)率μ與溫度有關(guān)系之外，飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度BS、剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度Br、矯頑力Hc，以及磁心比損耗Pcv（單位重量損耗W/kg）等磁參數(shù)，也都與磁心的工作溫度有關(guān)。 [2] 

磁導(dǎo)率的測量是間接測量，測出磁心上繞組線圈的電感量，再用公式計算出磁芯材料的磁導(dǎo)率。所以，磁導(dǎo)率的測試儀器就是電感測試儀。在此強(qiáng)調(diào)指出，有些簡易的電感測試儀器，測試頻率不能調(diào)，而且測試電壓也不能調(diào)。例如某些電橋，測試頻率為100Hz或1kHz，測試電壓為0.3V，給出的這個0.3V并不是電感線圈兩端的電壓，而是信號發(fā)生器產(chǎn)生的電壓。至于被測線圈兩端的電壓是個未知數(shù)。如果用高檔的儀器測量電感，例如 Agilent 4284A 精密LCR測試儀，不但測試頻率可調(diào)，而且被測電感線圈兩端的電壓及磁化電流都是可調(diào)的。了解測試儀器的這些功能，對磁導(dǎo)率的正確測量是大有幫助的。 [2] 

說起磁導(dǎo)率μ的測量，似乎非常簡單，在材料樣環(huán)上隨便繞幾匝線圈，測其電感，找個公式一算就完了。其實(shí)不然，對同一只樣環(huán)，用不同儀器，繞不同匝數(shù)，加不同電壓或者用不同頻率都可能測出差別甚遠(yuǎn)的磁導(dǎo)率來。造成測試結(jié)果差別極大的原因，并非每個測試人員都有精力搞得清楚。本文主要討論測試匝數(shù)及計算公式不同對磁導(dǎo)率測量的影響。

大家知道，測量磁導(dǎo)率μ的方法一般是在樣環(huán)上繞N匝線圈測其電感L，對于內(nèi)徑較小的環(huán)型磁心，內(nèi)徑不如壁厚容易測量，它們的由來是把環(huán)的平均磁路長度當(dāng)成了磁心的磁路長度。用它們計算出來的磁導(dǎo)率稱為材料的環(huán)磁導(dǎo)率。有人說用環(huán)型樣品測量出來的磁導(dǎo)率就叫環(huán)磁導(dǎo)率，這種說法是不正確的。實(shí)際上，環(huán)磁導(dǎo)率比材料的真實(shí)磁導(dǎo)率要偏高一些，且樣環(huán)的壁越厚，誤差越大。

對于樣環(huán)來說，在相同安匝數(shù)磁動勢激勵下，磁化場在徑向方向上是不均勻的。越靠近環(huán)壁的外側(cè)面，磁場就越弱。在樣環(huán)各處磁導(dǎo)率μ不變的條件下，越靠近環(huán)壁的外側(cè)，環(huán)的磁通密度B就越低。為了消除這種不均勻磁化對測量的影響，我們把樣環(huán)看成是由無窮多個半徑為r，壁厚無限薄為dr的薄壁環(huán)組成。

如果樣環(huán)是由同一種材料組成，則計算出來的磁導(dǎo)率就是其材料的真正磁導(dǎo)率μ。它比其環(huán)磁導(dǎo)率略低一些。

由于電感L與匝數(shù)N2成正比，按理說計算出來的磁導(dǎo)率μ不應(yīng)該再與匝數(shù)N有關(guān)系，但實(shí)際上卻經(jīng)常有關(guān)系。

關(guān)于材料磁導(dǎo)率的測量，一般使用的測試頻率都不高，經(jīng)常在1kHz或10kHz的頻率測試。測試信號一般都是使用正弦信號，因為頻率不高，樣環(huán)繞組線圈阻抗的電阻部分可忽略不計，把繞組線圈看作一個純電感L接在測量儀器上。測試等效電路如圖所示，儀器信號源產(chǎn)生的電壓有效值為U，Ri為信號源的輸出阻抗。

測量磁導(dǎo)率時，樣環(huán)中的磁化場強(qiáng)度與測試線圈的匝數(shù)有關(guān)，當(dāng)匝數(shù)為某一定值時磁場強(qiáng)度就會達(dá)到最強(qiáng)值。而材料的磁導(dǎo)率又與磁化場強(qiáng)密切相關(guān)，所以導(dǎo)致磁導(dǎo)率的測量與測試線圈匝數(shù)有關(guān)。結(jié)合圖具體討論匝數(shù)對磁導(dǎo)率測試的影響。

如前所述，對于高檔儀器，如Agilent 4284A精密LCR 測試儀，它的測試電壓可以調(diào)得極低，以至于測試磁場強(qiáng)度隨匝數(shù)的變化達(dá)到最強(qiáng)時，仍然沒有超出磁導(dǎo)率的起始區(qū)。這時測得的總是材料的起始磁導(dǎo)率μi，它與測試線圈匝數(shù)N無關(guān)。用同一臺儀器，如果把測試電壓調(diào)得比較高，不能再保證不同匝數(shù)測得的磁導(dǎo)率都是起始磁導(dǎo)率，這時所測得的磁導(dǎo)率又會與測試線圈匝數(shù)有關(guān)了。

絕大多數(shù)測量電感的簡便儀器，其測試電壓和頻率都不能靈活調(diào)節(jié)。如 2810 LCR電橋，其測試頻率為100Hz或1kHz，測試電壓小于0.3V。